专利
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用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置
专利权人

中国科学院大气物理研究所;北京中科技达科技有限公司
专利号
专利类别 中国发明专利
第一发明人
其他发明人
申请日期 20230926
授权日期 20230926
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